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モデル ToF-qSIMS Workstation

ToF-qSIMS-Workstation
モデルTOF-qSIMSシステムは、ポリマー、医薬品、超伝導体、半導体、合金、光学・機能性コーティング、誘電体など、幅広い材料の表面分析および深さプロファイリング用途向けに設計されており、微量成分をサブppmレベルまで測定可能です。