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モデル EQS SIMS Analyser

eqs
Hiden Analytical社は、定評のあるHiden EQSをはじめ、イオン分析のための世界トップクラスの質量分析ソリューションと革新的なツールを提供しています。この高透過型静電四重極二次イオン質量分析計(SIMS)は、研究規模の薄膜・ナノスケール表面分析において、当社で最も人気のある検出システムの1つです。EQS SIMSアナライザーは、XPSおよび集束イオンビーム(FIB)顕微鏡システムに最適なアドオンアナライザーです。