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モデル SIMS Workstation

SIMS-Workstation
HIDEN ANALYTICAL社は、高性能な動的および静的SIMS(二次イオン質量分析法)分析のための、極めて汎用性の高い高感度分析装置を提供しており、最先端のアプリケーションにおいて新たなレベルの精度を実現します。測定範囲が拡大され、正(+ve)イオンと負(-ve)イオンの両方を取得・同定できるこのSIMSワークステーションは、組成分析および深さプロファイリング用途向けの包括的なソリューションです。