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SIMS表面分析とSNMS表面分析

プラズマ分析、プラズマイオンアナライザおよびラングミュアプローブ
モデルSIMS Workstation薄膜深さプロファイリングの場合
モデルEQS固体試料からの二次+ veおよび-veイオンの分析
モデルMAXIM静的および動的SIMSおよびSNMSアプリケーションのためのシステム
モデルIG5CUHV表面分析用5KeVセシウムイオン銃
モデルIG20UHV表面分析のための5KeVアルゴンまたは酸素イオン源
モデルFIB-SIMS既存のFIBシステムに高性能SIMS機能を追加